📖 Система ЦТС. Реальная диаграмма состояний и особенности электрофизических свойств.

Построена фазовая х-Т диаграмма (T= 25 °С) системы PbZr1-xTixO3 в полном интервале растворимости компонентов 0.00 ? x ? 1.00. Установлено, что с ростом x происходит периодическое изменение фазового состава твердых растворов, скорости уменьшения объема ячейки, электрофизических параметров и плотности керамики. Показано, что немонотонный характер изменений электрофизических параметров обусловлен различным вкладом в их формирование спонтанной деформации, преобладающей в тетрагональной фазе, и доменных переориентаций, отличных от 180°-ных, - в ромбоэдрической фазе. Проведена подробная мультифрактальная параметризация зёренной структуры керамик. Выявлены особенности эволюции микроструктуры, связанные с фазовыми изменениями в системе. Подтверждены данные других авторов о том, что в интервале 0.11 < x ? 0.12 появляются кластеры тетрагональной фазы, и высказано предположение о том, что в интервале 0.675 < x< 0.80 появляются кластеры ромбоэдрической фазы.